CVE-2026-68991
In the Samsung Exynos ENN NeuralNetworks HAL, improper input validation during request processing can cause memory corruption and lead to…
CVSS 3.1Medium
N/A/ 10.0
Опубликовано
Обновлено
В атаках
Не зафиксировано
Публичный PoC
Отсутствует
Анализ подготовлен:CVE Futuretools Threat Intelligence
Верификация: MITRE CVE List · CISA KEV · NIST NVD
ОФИЦИАЛЬНЫЙ ПАТЧ НЕ ОПУБЛИКОВАН
Исправленная версия не указана. Проверьте бюллетень производителя.
01 // ТЕХНИЧЕСКАЯ СУТЬ УЯЗВИМОСТИ
Некорректная валидация входных данных в Samsung Exynos ENN NeuralNetworks HAL приводит к повреждению памяти и отказу в обслуживании.
02 // АНАТОМИЯ АТАКИ И ДЕФЕКТ ЛОГИКИ
Дефект возникает в процессе обработки входящих запросов компонентом ENN NeuralNetworks HAL вследствие ненадлежащей проверки переданных параметров.
03 // СИСТЕМНЫЕ ПОСЛЕДСТВИЯ
Повреждение памяти и отказ в обслуживании (DoS).
04 // МАТРИЦА ЗАТРОНУТЫХ ПАКЕТОВ
Точные диапазоны версий не зафиксированы в источниках
05 // ПЕРВОИСТОЧНИКИ И БЮЛЛЕТЕНИ (1)
- semiconductor.samsung.comhttps://semiconductor.samsung.com/support/quality-support/product-security-updates/
06 // ЦИТИРОВАНИЕ ДАННЫХ И ИСТОЧНИК
Для включения аналитической карточки в отчёты по безопасности, матрицы рисков или исследовательские публикации используйте стандартизированный формат цитирования:
Библиографическая ссылка (Plain text)
CVE Futuretools (2026). Анализ уязвимости CVE-2026-68991: In the Samsung Exynos ENN NeuralNetworks HAL, improper input validation during request processing can cause memory corruption and lead to…. URL: https://cve.futuretools.ru/cve/CVE-2026-68991
BibTeX формат (LaTeX)
@misc{cve_futuretools_cve_2026_68991,
title = {{CVE-2026-68991: In the Samsung Exynos ENN NeuralNetworks HAL, improper input validation during request processing can cause memory corruption and lead to…}},
author = {{CVE Futuretools}},
year = {2026},
howpublished = {\url{https://cve.futuretools.ru/cve/CVE-2026-68991}},
note = {Оперативный инженерный анализ киберугроз}
}