CVE-2026-68990
In the Samsung Exynos H-Arx DRM plugin, improper input validation during buffer operations can cause memory corruption, potentially…
CVSS 3.1Medium
N/A/ 10.0
Опубликовано
Обновлено
В атаках
Не зафиксировано
Публичный PoC
Отсутствует
Анализ подготовлен:CVE Futuretools Threat Intelligence
Верификация: MITRE CVE List · CISA KEV · NIST NVD
ОФИЦИАЛЬНЫЙ ПАТЧ НЕ ОПУБЛИКОВАН
Исправленная версия не указана. Проверьте бюллетень производителя.
01 // ТЕХНИЧЕСКАЯ СУТЬ УЯЗВИМОСТИ
Некорректная проверка входных данных в DRM-плагине Samsung Exynos H-Arx вызывает повреждение памяти.
02 // АНАТОМИЯ АТАКИ И ДЕФЕКТ ЛОГИКИ
Уязвимость проявляется при операциях с буфером из-за ненадлежащей валидации входных параметров в плагине H-Arx DRM.
03 // СИСТЕМНЫЕ ПОСЛЕДСТВИЯ
Повреждение памяти с риском отказа в обслуживании (DoS) или повышения привилегий.
04 // МАТРИЦА ЗАТРОНУТЫХ ПАКЕТОВ
Точные диапазоны версий не зафиксированы в источниках
05 // ПЕРВОИСТОЧНИКИ И БЮЛЛЕТЕНИ (1)
- semiconductor.samsung.comhttps://semiconductor.samsung.com/support/quality-support/product-security-updates/
06 // ЦИТИРОВАНИЕ ДАННЫХ И ИСТОЧНИК
Для включения аналитической карточки в отчёты по безопасности, матрицы рисков или исследовательские публикации используйте стандартизированный формат цитирования:
Библиографическая ссылка (Plain text)
CVE Futuretools (2026). Анализ уязвимости CVE-2026-68990: In the Samsung Exynos H-Arx DRM plugin, improper input validation during buffer operations can cause memory corruption, potentially…. URL: https://cve.futuretools.ru/cve/CVE-2026-68990
BibTeX формат (LaTeX)
@misc{cve_futuretools_cve_2026_68990,
title = {{CVE-2026-68990: In the Samsung Exynos H-Arx DRM plugin, improper input validation during buffer operations can cause memory corruption, potentially…}},
author = {{CVE Futuretools}},
year = {2026},
howpublished = {\url{https://cve.futuretools.ru/cve/CVE-2026-68990}},
note = {Оперативный инженерный анализ киберугроз}
}